FT-331四プローブブロック抵抗試験器

一.説明：

ファンデルベルクの測定原理を用いて、サンプルの幾何寸法、境界効果、プローブの不等距離と機械的移動などの外部要素による測定結果への影響と誤差を解決し、通信インタフェース、PCソフトウェアデータ処理とデータ分析を提供することができる。中国語または英語の言語バージョン

二.参照基準：

シリコンウェハ抵抗率測定の基準（ASTM F 84）及び国家標準設計製造；GB/T 1551-2009「シリコン単結晶抵抗率測定方法」、GB/T 1552-1995「シリコン、ゲルマニウム単結晶抵抗率測定直流四プローブ法」。

三.適用範囲：

生産企業、大学、科学研究部門に適用され、半導体材料の品質を検査し、分析するツールである。液晶表示、自動測定と係数補償、そして温度補償機能、自動変換レンジ、ADチップ制御、定電流出力、オプション：PCソフトウェア、データの保存と印刷、レポートの生成

用途：被覆フィルム、導電性高分子膜、高、低温電熱膜、断熱、導電性窓膜導電性（遮蔽）布、装飾膜、装飾紙、金属化ラベル、合金系箔フィルム、溶融、焼結、スパッタ、コーティング、コーティング層、抵抗式、容量式タッチスクリーンフィルム、電極塗料、その他の半導体材料、薄膜材料の抵抗試験などの関連製品

四.ブロック抵抗テスタの型番とパラメータ